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三維云紋干涉儀：該設(shè)備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維熱機械變形場（面內(nèi)的U,V場和離面的W場）。在電子封裝領(lǐng)域，該設(shè)備是重要的失效分析手段。

臥式光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進行實驗應(yīng)力測試的儀器，簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以通過模型在實驗室內(nèi)進行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機械部件的應(yīng)力和應(yīng)力分布的測試，并可以在模型上直接看到被測件的全部應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。

立式光彈測試儀：光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進行實驗應(yīng)力測試的儀器，簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力，以圖像形式直觀觀察被測件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。